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高解像度カメラ検査 : 半導体
半導体用プリント基板向けに設計された
特別にマイクロBGA, フリップチップ、クリスタル
パワーフィルターなど向け
40倍の倍率にて
高解像度表示画面へのイメージ転送
イメージ画像が記録できる